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DIN 45930-1;CECC 50000:1987-06

Withdrawn
Withdrawn

A Withdrawn Standard is one, which is removed from sale, and its unique number can no longer be used. The Standard can be withdrawn and not replaced, or it can be withdrawn and replaced by a Standard with a different number.

HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS; DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES
Withdrawn date

01-02-2002

Published date

12-01-2013

VORBEMERKUNG
EINLEITUNG
Durchführungsbestimmungen
Abschnitt
Hauptabschnitt 1 - Geltungsbereich
Hauptabschnitt 2 - Allgemeines
2.1 Rangfolge
2.2 Bezugsdokumente
2.3 Masseinheiten, Schalt- und Formelzeichen,
    Begriffe und Definitionen
2.4 Bevorzugte Grenz- und Kennwerte
2.5 Kennzeichnung
    2.5.1 Kennzeichnung der Anschlüsse
    2.5.2 Kennzeichnung der Bauart
    2.5.3 Hersteller- oder Handelsbezeichnung
    2.5.4 Datumcode
2.6 Bestellangaben
Hauptabschnitt 3 - Gütebestätigungsverfahren
3.1 Primäre Fabrikationsstufe und Untervergabe
3.2 Definition eines Fertigungsloses
3.3 Strukturell ähnliche Bauelemente
3.4 Bauartzulassung
3.5 Gütebestätigungskontrollen
    3.5.1 Einteilung nach Gruppen und Untergruppen
    3.5.2 Prüfanforderungen
    3.5.3 Ergänzungsbestimmungen für reduzierte Prüfungen
    3.5.4 Stichproben, entnommen aus kleinen
           Fertigungslosen oder bei teuren Bauelementen
    3.5.5 Bestätigte Prüfberichte
    3.5.6 Auslieferung von Bauelementen nach zerstörenden
           bzw. nicht-zerstörenden Prüfungen
    3.5.7 Verzögerte Auslieferungen
    3.5.8 Zusatz-Auslieferungsbestimmungen
    3.5.9 Nicht-geprüfte Eigenschaften
    3.5.10 Screening
Hauptabschnitt 4 - Prüf- und Messbedingungen
4.1 Grundlegende Prüfbedingungen
4.2 Prüfung des Bauelementäusseren
    4.2.1 Sichtprüfung
    4.2.2 Abmessungen
    4.2.3 Haftfestigkeit der Bezeichnung
4.3 Elektrische Messungen
    4.3.1 Alternativmethoden
    4.3.2 Messunsicherheit
    4.3.3 Messungen bei hoher Temperatur
    4.3.4 Elektrische Messmethoden
4.4 Klimatische und mechanische Prüfungen
    4.4.1 Hochtemperaturlagerung
    4.4.2 Feuchte Wärmeprüfung, Kurzprüfung
    4.4.3 Feuchte Wärmeprüfung, konstant
    4.4.4 Temperaturwechsel
    4.4.5 Schocken
    4.4.6 Schwingen
    4.4.7 Lötbarkeit
    4.4.8 Lötwärmebeständigkeit
    4.4.9 Mechanische Widerstandsfähigkeit der
           Anschlüsse
    4.4.10 Dichtheit
    4.4.11 Gleichförmige Beschleunigung
4.5 Elektrische Dauerprüfungen
    4.5.1 Allgemeines
    4.5.2 Übliche Verfahren
    4.5.3 Geraffte Prüfungen
Anhang:
I - Strukturell ähnliche Bauelemente
II A - Allgemeine Prüfbedingungen für Transistoren
       und Dioden (ausschliesslich Gleichrichterdioden)
II B - Allgemeine Prüfbedingungen für
       Gleichrichterdioden und Thyristoren
III - Tabellen der Abmessungen, die in den
       Gruppen B und C geprüft werden
IV - Richtungen der bei mechanischen Prüfungen
       angreifenden Kräfte
V - Beschreibung elektrischer Messungen, die keine
       IEC-Verfahren sind
VI - Sortierprüfung

DevelopmentNote
Identified with CECC 50000. (12/2001)
DocumentType
Standard
PublisherName
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
Status
Withdrawn

Standards Relationship
CECC 50000 : 86 AMD 3 Corresponds
CECC 50000 : 86 AMD 3 Identical

VDE 0800-9 : 1989 TELECOMMUNICATIONS - KU VALUES OF SAFETY RELEVANT COMPONENTS AND INSULATIONS
DIN VDE 0800-9 : 1989 TELECOMMUNICATIONS; KU-VALUES OF SAFETY RELEVANT COMPONENTS AND INSULATIONS
DIN EN 150010:1997-02 BLANK DETAIL SPECIFICATION - AMBIENT-RATED THYRISTORS
DIN EN 150008:1993-10 BLANK DETAIL SPECIFICATION: AMBIENT-RATED RECTIFIER DIODES

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