CHEMICAL ANALYSIS OF NITRIDE BONDED SILICON CARBIDE REFRACTORIES - PART 2: XRD METHODS

Published date

12-01-2013

Publisher

Avant-propos
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Appareillage
5 Échantillonnage
6 Mode opératoire
  6.1 Préparation des échantillons
  6.2 Paramètres de mesure
  6.3 Analyse qualitative
  6.4 Analyse quantitative
7 Fidélité
  7.1 Répétabilité
  7.2 Reproductibilité
8 Rapport d'essai
Annexe A (normative) Données de diffraction des rayons X
         pour la détermination de la teneur en SiAION-v'
Bibliographie

Specifies methods for the determination of mineralogical phases typically apparent in nitride and oxy-nitride bonded silicon carbide refractory products using a Bragg-Brentano diffractometer.

DevelopmentNote	Indice de classement: B49-422-2. (04/2008) Supersedes NF EN 12698. (09/2012)
DocumentType	Standard
PublisherName	Association Francaise de Normalisation
Status	Current
Supersedes	NF EN 12698 : 2005 PR

Standards	Relationship
DIN EN 12698-2 E : 2007	Identical
UNE-EN 12698-2:2007	Identical
UNI EN 12698-2 : 2007	Identical
EN 12698-2:2007	Identical
BS EN 12698-2:2007	Identical
DIN EN 12698-2:2007-06	Identical

NF EN ISO 21068-1 : 2008	CHEMICAL ANALYSIS OF SILICON CARBIDE- CONTAINING RAW MATERIALS AND REFRACTORY PRODUCTS - PART 1: GENERAL INFORMATION AND SAMPLE PREPARATION
NF EN 12698-1 : 2008	CHEMICAL ANALYSIS OF NITRIDE BONDED SILICON CARBIDE REFRACTORIES - PART 1: CHEMICAL METHODS