NFC 86 200 : 86 AMD 1 87
Superseded
A superseded Standard is one, which is fully replaced by another Standard, which is a new edition of the same Standard.
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HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS - DIGITAL MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS SECTIONAL SPECIFICATION
01-03-2013
12-01-2013
PREAMBULE
PREFACE
1 DOMAINE D'APPLICATION
2 GENERALITES
2.1 Documents applicables
2.2 Valeurs des tensions préférentielles
2.3 Symboles et terminologie
3 PROCEDURES D'ASSURANCE DE LA QUALITE
3.1 Modèles associables
3.2 Rapports certifies d'essais
4 PROCEDURES DE MESURES ET D'ESSAIS
4.1 Mesures électriques
4.1.1 Vérification de la fonction
4.1.2 Mesure des caractéristiques statiques
4.1.3 Mesure des caractéristiques dynamiques
4.1.4 Courant de sortie en court circuit
4.1.5 Tension de claquage
4.1.6 Courant d'alimentation
4.1.7 Capacité
4.1.8 Courant de fuite
4.1.9 Valeur limite d'énergie transitoire
4.1.10 Tension d'écrêtage a l'entrée
4.2 Essais d'endurance en fonctionnement
4.2.1 Conditions générales
4.2.2 Conditions d'essai
5 SPECIFICATION PARTICULIERE CADRE POUR CIRCUITS INTEGRES
MONOLITHIQUES LOGIQUES
5.1 Introduction
5.2 Page de garde
5.3 Identification du composant et informations supplémentaires
5.4 Exigences de controle
5.4.1 Définition des niveaux d'assurance de qualité P, Y et L
5.4.2 Signification des abréviations
Controle du groupe A
Controle du groupe B
Controle du groupe C
Controle du groupe D
5.5 Exigences pour les sous-groupes A3, A4 et A5
5.5.1 Exigences pour les circuits combinatoires TTL
5.5.2 Exigences pour les circuits C. MOS
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