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DIN IEC 60747-2:2001-02

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The latest, up-to-date edition.

SEMICONDUCTOR DEVICES - DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - PART 2: RECTIFIER DIODES
Available format(s)

Hardcopy , PDF

Language(s)

German

Published date

01-01-2001

Vorwort
Einleitung
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Begriffe
  3.1 Allgemeine Begriffe
  3.2 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
       Kennwerten: Spannungen
  3.3 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
       Kennwerten: Ströme
  3.4 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
       Kennwerten: Verlustleistungen
  3.5 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
       Kennwerten: Sonstige Kennwerte
4 Kurzzeichen
  4.1 Allgemeines
  4.2 Zusätzliche allgemeine Indizes
       4.2.1 Für Ströme, Spannungen und Leistungen
       4.2.2 Für elektrische Parameter
  4.3 Liste der Kurzzeichen
       4.3.1 Spannungen
       4.3.2 Ströme
       4.3.3 Leistungen
       4.3.4 Schaltverhalten
5 Wesentliche Bemessungs- und Kennwerte
  5.1 Allgemeines
       5.1.1 Anwendungsbereich
       5.1.2 Verfahren für die Angabe der Bemessungswerte
       5.1.3 Empfohlene Temperaturen
  5.2 Bedingungen für Bemessungswerte
       5.2.1 Umgebungsbezogene Gleichrichterdioden
       5.2.2 Gehäusebezogene Gleichrichterdioden
  5.3 Bemessungswerte für Spannung und Strom (Grenzwerte)
       5.3.1 Nicht-periodische Spitzensperr spannung
              (U[RSM])
       5.3.2 Periodische Spitzensperrspannung (U[RRM])
       5.3.3 Scheitelsperrspannung (U[RWM])
       5.3.4 Gleichsperrspannung (U[R]) (falls erforderlich)
       5.3.5 Dauergrenzstrom (I[FAV])
       5.3.6 Periodischer Spitzen-Durchlassstrom (I[FRM])
              (falls erforderlich) (besonders bei
              schnellschaltenden Dioden)
       5.3.7 Überlast-Durchlassstrom (I ([0V]))
       5.3.8 Stossstrom-Grenzwert (I[FSM])
       5.3.9 Durchlass-Gleichstrom (I[F])
       5.3.10 Gehäusebruchstrom zerstörender Spitzenstrom
              (I[RSMC])
  5.4 Frequenz-Bemessungswerte (Grenzwerte)
  5.5 Verlustleistungs-Bemessungswerte
       5.5.1 Stoss-Sperrverlustleistung (für
              Lawinen-Gleichrichterdioden und solche mit
              eingegrenztem Durchbruchbereich)
       5.5.2 Periodische Spitzen-Sperrverlustleistung (für
              Lawinen-Gleichrichterdioden mit eingegrenztem
              Durchbruchbereich)
       5.5.3 Mittlere Sperrverlustleistung (für
              Lawinen-Gleichrichterdioden mit eingegrenztem
              Durchbruchbereich)
  5.6 Temperatur-Bemessungswerte (Grenzwerte)
       5.6.1 Kühlmittel- (T[a]) oder Bezugspunkttemperaturen
              (T[ref]) (für umgebungsbezogene oder
              gehäusebezogene Gleichrichterdioden)
       5.6.2 Lagerungstemperaturen (T[stg])
       5.6.3 Ersatzsperrschichttemperatur (T[vj]) (falls
              erforderlich)
  5.7 Elektrische Kennwerte
       5.7.1 Durchlasskennwerte (falls erforderlich)
       5.7.2 Durchlassspannung (unter thermischen
              Gleichgewichtsbedingungen)
       5.7.3 Durchbruchspannung (U[BR]) (einer
              Lawinen-Gleichrichterdiode, für nicht-periodische
              Anwendung)
       5.7.4 Periodischer Spitzensperrstrom (I[RM])
       5.7.5 Gesamtverlustleistung (P[tot])
       5.7.6 Höchste Gesamtenergie für einen
              Durchlassstromimpuls in Form einer
              Sinus-Halbschwingung (falls erforderlich)
              (speziell für schnell schaltende Dioden)
       5.7.7 Sperrverzögerungsladung (Q[r]) (falls
              erforderlich)
       5.7.8 Rückstromspitze (I[RM]) (falls erforderlich)
       5.7.9 Sperrverzögerungszeit (t[rr]) (falls
              erforderlich)
       5.7.10 Durchlassverzögerungszeit (t[fr]) (falls
              erforderlich)
       5.7.11 Spitzen-Durchlassverzögerungsspannung (U[FRM])
              (falls erforderlich)
       5.7.12 Abklingsanftheit (F[RRs]) (falls erforderlich)
  5.8 Thermische Kennwerte (falls erforderlich)
       5.8.1 Transienter Wärmewiderstand (Z[th](t))
  5.9 Mechanische Kennwerte und andere Daten
  5.10 Anwendungsdaten
       5.10.1 Betrieb im eingeschwungenen Zustand
              (einschliesslich Überlast)
       5.10.2 Transiente Bedingungen
6 Anforderungen an Typprüfungen und Stückprüfungen;
  Aufschriften auf Gleichrichterdioden
  6.1 Typprüfungen
  6.2 Stückprüfungen
  6.3 Mess- und Prüfverfahren
  6.4 Aufschriften auf Gleichrichterdioden
7 Mess- und Prüfverfahren
  7.1 Messverfahren für elektrische Kennwerte
       7.1.1 Allgemeine Regeln
       7.1.2 Durchlassspannung
       7.1.3 Durchbruchspannung (U([BR])) von
              Lawinen-Gleichrichterdioden und solchen mit
              eingegrenztem Durchbruchbereich
       7.1.4 Sperrstrom
       7.1.5 Sperrverzögerungsladung und Sperrverzögerungszeit
              (Q[r], t[rr])
       7.1.6 Durchlassverzögerungszeit (t[fr]) und
              Spitzen-Durchlassverzögerungsspannung(U[FRM])
  7.2 Messverfahren für thermische Kennwerte
       7.2.1 Bezugspunkttemperatur
       7.2.2 Wärmewiderstand und transienter Wärmewiderstand
  7.3 Prüfverfahren zur Überprüfung von Bemessungswerten
       (Grenzwerten)
       7.3.1 Stossstrom
       7.3.2 Nicht-periodische Spitzensperrspannung(U[RSM])
       7.3.3 Spitzensperrverlustleistung (periodisch oder
             nicht-periodisch) (P[RRM], P[RSM]) von
             Lawinen-Gleichrichterdioden und solchen mit
             eingegrenztem Durchbruchbereich
       7.3.4 Gehäusebruchstrom
  7.4 Dauerprüfung
       7.4.1 Verzeichnis der Dauerprüfungen
       7.4.2 Bedingungen für Dauerprüfungen
       7.4.3 Ausfallkriterien und Merkmale für
              Annahmeprüfungen
       7.4.4 Merkmale und Ausfallkriterien für
              Zuverlässigkeitsprüfungen
       7.4.5 Vorgehen im Falle eines Prüffehlers
       7.4.6 Prüfung mit thermischen Lastwechseln
Anhang A (informativ) Berechnung der Erwärmung bei zeitlich
         veränderlicher Belastung

Die vorliegende Norm enthält Festlegungen für die nachfolgenden Bauelemente-Gruppen und Untergruppen. Gleichrichterdioden, einschliesslich: - Lawinen - Gleichrichterdioden; - Lawinen - Gleichrichterdioden mit eingegrenztem Durchbruchbereich; - schnell schaltende Gleichrichterdioden.

DevelopmentNote
Supersedes DIN 41782, DIN 41783 and DIN 41794-8 (07/2002)
DocumentType
Standard
Pages
55
PublisherName
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
Status
Current
Supersedes

Standards Relationship
IEC 60747-2:2016 Identical

IEC 60747-1:2006+AMD1:2010 CSV Semiconductor devices - Part 1: General
DIN IEC 60747-1:1987-03 SEMICONDUCTOR DEVICES; DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS; GENERAL

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