MICROBEAM ANALYSIS - GUIDELINES FOR ORIENTATION MEASUREMENT USING ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION

Published date

01-12-2013

Publisher

Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Équipement EBSD
5 Conditions de fonctionnement
6 Étalonnages requis pour l'indexation des clichés EBSP
7 Procédure d'analyse
8 Incertitude de mesure
9 Présentation des résultats d'analyse
Annexe A (informative) - Principe de l'EBSD
Annexe B (normative) - Préparation de l'échantillon pour
         l'EBSD
Annexe C (informative) - Brève introduction à la
         cristallographie, à l'indexation du cliché
         EBSP, et autres informations utiles pour
         l'EBSD
Bibliographie

La présente Norme internationale fournit des recommandations sur la façon de produire des mesures d'orientation cristallographique fiables et reproductibles en utilisant la diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD). Elle aborde les conditions de préparation des échantillons, la configuration de l'instrument, l'étalonnage et l'acquisition des données.

DevelopmentNote	Indice de classement: X21-011. PR NF ISO 24173 July 2008. (07/2008)
DocumentType	Standard
PublisherName	Association Francaise de Normalisation
Status	Current

Standards	Relationship
ISO 24173:2009	Identical

ISO/IEC 17025:2005	General requirements for the competence of testing and calibration laboratories
ISO/IEC Guide 98-3:2008	Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)