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NF EN 61163-1 : 2007

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RELIABILITY STRESS SCREENING - PART 1: REPAIRABLE ASSEMBLIES MANUFACTURED IN LOTS
Published date

01-12-2013

AVANT-PROPOS
INTRODUCTION
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Symboles
5 Description générale
  5.1 Principe du déverminage sous contraintes
  5.2 Catégories de défaillances
  5.3 Temps d'apparition des défaillances
6 Préparation
  6.1 Détermination des conditions de contrainte
  6.2 Evaluation de la période sans défaillance TM
  6.3 Graphiques des durées de détermination de la
      période sans défaillance
7 Déverminage de production de présérie
  7.1 Généralités
  7.2 Collecte des informations
  7.3 Evaluation des informations
  7.4 Nouvelle estimation de la période sans défaillance
      TM
8 Déverminage d'une production stabilisée
  8.1 Généralités
  8.2 Collecte des informations
  8.3 Evaluation des informations
  8.4 Traitement des anomalies
  8.5 Suppression du déverminage sous contraintes
Annexe A (informative) Conditions des contraintes -
          Généralités
Annexe B (informative) Conditions de contraintes -
          Température
Annexe C (informative) Conditions de contraintes -
          Vibrations et secousses
Annexe D (informative) Conditions de contraintes -
          Humidité
Annexe E (informative) Conditions de contraintes -
          Contraintes de fonctionnement
Annexe F (informative) Contrainte de tension
Annexe G (informative) Déverminage à forte accélération
Annexe H (informative) Distributions bimodales - Relevés
          expérimentaux sur graphe de Weibull et analyses
Annexe I (informative) Evaluation de la durée de la
          période sans défaillance et de la durée
          moyenne du déverminage
Annexe J (informative) Démonstration de la méthode par
          un exemple
Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres
          publications internationales avec les
          publications européennes correspondantes
Bibliographie

Describes particular methods to apply and optimize reliability stress screening processes for lots of repairable hardware assemblies, in cases where the assemblies have an unacceptably low reliability in the early failure period, and when other methods, such as reliability growth programmes and quality control techniques, are not applicable.

DevelopmentNote
Indice de classement: C20-301-1 PR NF EN 61163-1 March 2004 (03/2004)
DocumentType
Standard
PublisherName
Association Francaise de Normalisation
Status
Current

Standards Relationship
DIN EN 61163-1:2007-06 Identical
BS EN 61163-1:2006 Identical
EN 61163-1 : 2006 Identical
IEC 61163-1:2006 Identical
I.S. EN 61163-1:2006 Identical

NF EN 62429 : 2008 RELIABILITY GROWTH - STRESS TESTING FOR EARLY FAILURES IN UNIQUE COMPLEX SYSTEMS

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