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DIN EN 190100:1995-02

DIN EN 190100:1995-02

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The latest, up-to-date edition.

SECTIONAL SPECIFICATION: DIGITAL MONOLITHIC INTEGRATED CIRCUITS

Available format(s)

Hardcopy , PDF

Language(s)

German

Published date

01-01-1995

Publisher

German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

1 Anwendungsbereich
2 Allgemeines
  2.1 Bezugsschriftstücke
  2.2 Vorzugsspannungen für digitale monolithische
      Integrierte Schaltungen
  2.3 Symbole und Terminologie
3 Gütebestätigungsverfahren
  3.1 Strukturell ähnliche Schaltungen (siehe CECC
      90 000, Abschnitt 3.2)
  3.2 Bestätigte Prüfberichte
4 Prüf- und Messverfahren
  4.1 Elektrische Messverfahren (siehe CECC
      90 000, Abschnitte 4.1 und 4.5)
      4.1.1 Funktionsprüfung
      4.1.2 Messung von statischen Kennwerten
      4.1.3 Messung von dynamischen Kennwerten
      4.1.4 Ausgangs-Kurzschlussstrom
      4.1.5 Durchbruchsspannung
      4.1.6 Stromaufnahme
      4.1.7 Kapazität
      4.1.8 Leckstrom
      4.1.9 ESD-Prüfung
      4.1.10 Eingangsklemmspannung
  4.2 Elektrische Lebensdauerprüfung
      4.2.1 Allgemeines
      4.2.2 Prüfbedingungen
5 Bauartspezifikation für digitale monolithische
  Integrierte Schaltungen
  5.1 Einleitung
  5.2 Deckblatt
  5.3 Kennzeichnung des Bauelementes und zusätzliche
      Angaben
  5.4 Prüfanforderungen
      5.4.1 Erläuterung zu den Gütebestätigungsstufen
             P, Y und L
      5.4.2 Abkürzungen
      5.4.3 Prüfungen - Gruppe A
      5.4.4 Prüfungen - Gruppe B
      5.4.4 Prüfungen - Gruppe C
      5.4.6 Prüfungen - Gruppe D
  5.5 Anforderungen an die Untergruppen A3, A4 und A5
      5.5.1 Anforderungen für TTL-Schaltungen
             (fortgesetzt)
      5.5.2 Anforderungen an CMOS-Schaltungen

Gives ratings, characteristics and inspection requirements to be included as mandatory requirements in accordance with BS CECC 90100 in any detail specification for these devices.

DevelopmentNote
Supersedes DIN 45940-11 (07/2002)
DocumentType
Standard
Pages
56
PublisherName
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
Status
Current
Supersedes

Standards Relationship
BS EN 190100:1993 Identical
EN 190100:1993 Identical
NEN EN 190100 : 2005 Identical

DIN IEC 60748-1:1988-01 SEMICONDUCTOR DEVICES; INTEGRATED CIRCUITS; PART 1: GENERAL
DIN IEC 60068-2-30:1986-09 ELECTRICAL ENGINEERING - BASIC ENVIRONMENTAL TESTING PROCEDURES - TEST DB AND GUIDANCE - DAMP HEAT, CYCLIC (12 + 12 HOUR CYCLE)
DIN 41791-4:1974-03 SEMICONDUCTOR DEVICES FOR TELECOMMUNICATION; RECOMMENDATIONS FOR DATA SHEETS, LOW POWER SIGNAL TRANSISTORS
DIN IEC 60747-10:1987-10 SEMICONDUCTOR DEVICES; GENERIC SPECIFICATION FOR SEMICONDUCTOR DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS
DIN 40900-12:1992-09 GRAPHICAL SYMBOLS FOR DIAGRAMS; BINARY LOGIC ELEMENTS
DIN IEC 60748-2:1990-11 SEMICONDUCTOR DEVICES; INTEGRATE CIRCUITS; PART 2: DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
DIN 41785-3:1975-02 SEMICONDUCTOR DEVICES - LETTER SYMBOLS FOR DATA SHEETS FOR POWER SEMICONDUCTOR DEVICES
DIN IEC 60747-1:1987-03 SEMICONDUCTOR DEVICES; DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS; GENERAL
DIN 41791-6:1976-06 SEMICONDUCTOR DEVICES FOR TELECOMMUNICATION; RECOMMENDATIONS FOR DATA SHEETS, SWITCHING TRANSISTORS

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