DIN EN 60749-38:2008-10
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SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 38: SOFT ERROR TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES WITH MEMORY
Hardcopy , PDF
German
01-01-2008
In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Verfahren zur Messung der Fähigkeit des Datenerhalts von Halbleiterbauelementen mit Speichern festgelegt, wenn diese Bauelemente einer Beanspruchung mit hochenergetischen Teilchen wie der Alpha-Strahlung ausgesetzt sind.
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