NF ISO 22489 : 2007

La présente Norme internationale spécifie des exigences pour la quantification d'éléments dans un volume d'échantillon de l'ordre du micromètre, identifiés par l'analyse des rayons X produits par un faisceau d'électrons au moyen d'un spectromètre à dispersion de longueur d'onde (WDS) monté sur une microsonde de Casting ou sur un microscope électronique à balayage (SEM). Elle décrit: le principe de l'analyse quantitative, l'utilisation générale de cette technique en termes d'éléments, de fractions massiques et d'échantillons de référence, les exigences générales relatives à l'instrument, et les modes opératoires fondamentaux concernés tels que la préparation de l'échantillon, le choix des conditions expérimentales, les mesurages, l'analyse de ces derniers et le rapport. La présente Norme internationale est destinée à l'analyse quantitative d'un échantillon massif plat et homogène au moyen d'un faisceau d'incidence normale. Elle ne spécifie pas les exigences détaillées auxquelles doivent répondre les instruments ou le logiciel de traitement des données. Il convient que les opérateurs obtiennent des informations, telles que les conditions d'installation, les modes opératoires détaillés et les spécifications de l'instrument, auprès des fabricants de tout produit utilisé.