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VDE 0418-9-31-1 : 2009

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The latest, up-to-date edition.

ELECTRICITY METERING EQUIPMENT - DEPENDABILITY - PART 31-1: ACCELERATED RELIABILITY TESTING ELEVATED TEMPERATURE AND HUMIDITY

Available format(s)

Hardcopy

Language(s)

German

Published date

07-01-2009

Vorwort
Einleitung
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Begriffe
4 Symbole und Abkürzungen
5 Beschreibung der quantitativen zeitraffenden
   Lebensdauerprüfungen
   5.1 Einleitung
   5.2 Die Lebensdauerverteilung
   5.3 Das Lebensdauer-Beanspruchungsmodell
6 Die Weibull-Verteilung
   6.1 Einleitung
   6.2 Grafische Darstellung
   6.3 Berechnung der Parameter der Verteilung
7 Das Lebensdauer-Beanspruchungsmodell
   7.1 Allgemeines
   7.2 Lineare Gleichung des Raffungsfaktors
   7.3 Berechnung der Parameter [n] und E[a]
8 Das quantitative zeitraffende Lebensdauerprüfverfahren
   8.1 Auswahl der Stichproben
   8.2 Schritte für die Schätzung der Lebensdauerkennwerte
        eines Produktes
   8.3 Verfahren für das Beenden der Prüfung mit maximalem
         Beanspruchungsgrad
   8.4 Verfahren für die Erfassung der Daten bis zum Ausfall
        und zur Reparatur von Zählern
9 Festlegung der bestimmungsgemässen Gebrauchsbedingungen
   9.1 Einleitung
   9.2 Temperatur- und Luftfeuchtebedingungen
   9.3 Temperaturkorrektur aufgrund von Spannungs- und
        Stromschwankungen
   9.4 Weitere Bedingungen
10 Einteilung und Grundursachen von Ausfällen
11 Angabe der Ergebnisse
   11.1 Erforderliche Angaben
   11.2 Beispiel
12 Sonderfälle
   12.1 Vereinfachungsfälle
   12.2 Fälle, in denen zusätzliche Angaben notwendig sind
Anhang A (informativ) Grundlegender statistischer Hintergrund
          A.1 Die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion (WDF)
          A.2 Die Zuverlässigkeits- und Unzuverlässigkeitsfunktion
          A.3 Die Ausfallratenfunktion
          A.4 Die Funktion der mittleren Ausfalldauer
Anhang B (informativ) Die Kennwerte der Weibull-Verteilung
          B.1 Die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion (WDF)
          B.2 Statistische Eigenschaften der Weibull-Verteilung
          B.3 Auswirkungen der [beta]- und [eta]-Parameter
Anhang C (informativ) Lebensdauer-Beanspruchungsmodelle
          C.1 Das Arrhenius-Temperatur-Zeitraffungsmodell
          C.2 Das Eyring-Modell
Anhang D (normativ) Tabellen der Rangzahlen
Anhang E (normativ) Werte der Gamma-Funktion [gamma](n)
Anhang F (normativ) Berechnung der Mindestprüfdauer der
          Prüfung mit maximalem
          Beanspruchungsgrad
          F.1 Grundlagen
          F.2 Gleichung für die Mindestprüfdauer
Anhang G (informativ) Beispel
          G.1 Allgemeines
          G.2 Genaue Bezeichnung des Zählertyps und
               Auswahl der Stichproben
          G.4 Prüfverfahren
          G.5 Festlegung der Beanspruchungen
          G.6 Ausfälle bei jedem Beanspruchungsgrad
          G.7 Grafische Darstellung von Verteilungen bei
               jedem Beanspruchungsgrad und für jede
               unabhängige Hauptausfallart
          G.8 Schätzung von Parametern der
               Raffungsfaktoren
          G.9 Erwartete bestimmungsgemässe
               Gebrauchsbedingungen
          G.10 Temperaturkorrektur für jede unabhängige
               Hauptausfallart
          G.11 Extrapolierte Weibull-Verteilung bei
               bestimmungsgemässen Gebrauchsbedingungen
          G.12 Grafische Darstellung der kumulativen
               Verteilung und der Vertrauensniveaus bei
               bestimmungsgemässen Gebrauchsbedingungen
          G.13 Ergebnis der Lebensdauerkennwerte des
               Produktes
Literaturhinweise
Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf
          internationale Publikationen mit ihren
          entsprechenden europäischen Publikationen
Bilder
Tabellen

DevelopmentNote
Supersedes VDE 0418-9-31. (03/2015)
DocumentType
Standard
Pages
0
PublisherName
Verband Deutscher Elektrotechniker
Status
Current
Supersedes

Standards Relationship
IEC 62059-31-1:2008 Identical
EN 62059-31-1 : 2008 Identical
DIN EN 62059-31-1 : 2009 Corresponds

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