NF EN 13925-3 : 2005
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NON-DESTRUCTIVE TESTING - X-RAY DIFFRACTION FROM POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS MATERIALS - PART 3: INSTRUMENTS
12-01-2013
Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Description de l'appareillage
4.1 Généralités
4.2 Sources de rayons X
4.2.1 Généralités
4.2.2 Sources de rayons X conventionnelles (tubes
scellés et générateurs à anode tournante)
4.2.3 Source de rayonnement synchrotron
4.3 Optiques primaire et secondaire
4.3.1 Généralités
4.3.2 Monochromateurs
4.3.3 Dimensions et géométrie du faisceau
4.4 Détecteurs
4.4.1 Types de détecteurs
4.4.2 Résolution spatiale des détecteurs
4.4.3 Résolution énergétique des détecteurs
4.5 Goniomètres
4.5.1 Généralités
4.5.2 Positionnement de l'éprouvette
4.6 Porte-éprouvette
4.7 Système d'acquisition des données
5 Caractérisation des composants de l'appareillage
6 Alignement et étalonnage des appareils
6.1 Généralités
6.2 Alignement
6.3 Étalonnage
7 Controle et maîtrise de la performance
Annexe A (informative) Relations entre les normes relatives à
la DRXP (Liens entre les sujets dans
les différentes normes)
Annexe B (informative) Alignement des diffractomètres à
géométrie Bragg-Brentano
Annexe C (informative) Procédures relatives à la
caractérisation de la performance de
l'appareillage
Annexe D (informative) Formulaires types de rapport pour la
caractérisation des appareillages
Bibliographie
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