NF ISO 22493 : 2009

Withdrawn

MICROBEAM ANALYSIS - SCANNING ELECTRON MICROSCOPY - VOCABULARY

Withdrawn date

15-12-2017

Published date

12-01-2013

Publisher

Association Francaise de Normalisation

Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Termes abrégés
3 Termes utilisés dans les bases physiques de la MEB
4 Termes utilisés dans l'instrumentation pour MEB
5 Termes utilisés dans la formation et le traitement
  des images MEB
6 Termes utilisés dans l'interprétation et l'analyse
  des images MEB
7 Termes utilisés pour le mesurage et l'étalonnage du
  grandissement et de la résolution d'image MEB
Bibliographie
Index alphabétique

La présente Norme internationale définit les termes utilisés dans les applications de la microscopie électronique à balayage (MEB). Elle couvre des concepts généraux et des concepts spécifiques, hiérarchisés selon un ordre systématique, et inclut les termes déjà définis dans l'ISO 23833, le cas échéant. La présente Norme internationale s'applique à tous les documents de normalisation relatifs à la pratique de la MEB. Certains articles de la présente Norme internationale s'appliquent également aux documents relevant de domaines apparentés (par exemple l'EPMA, la MEA, l'EDS) pour la définition des termes qui sont pertinents dans ces domaines.

DevelopmentNote	Indice de classement: X21-010. PR NF ISO 22493 January 2007. (01/2007)
DocumentType	Standard
PublisherName	Association Francaise de Normalisation
Status	Withdrawn