NFC 83 120 : 83 AMD 2 88
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HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS - SECTIONAL SPECIFICATION - FIXED MICA DIELECTRIC - D.C CAPACITORS
12-01-2013
PREFACE
SECTION 1 -- GENERALITES
1.1 Domaine d'application
1.2 Documents applicables
1.3 Terminologie
1.4 Marquage
SECTION 2 -- VALEURS NOMINALES ET CARACTERISTIQUES
2.1 Catégories climatiques préférentielles
2.2 Capacité nominale (CR)
2.3 Tolérance sur la capacité nominale
2.4 Tension nominale (UR)
2.5 Coefficient de température et dérive de capacité
SECTION 3 -- PROCEDURES D'ASSURANCE DE LA QUALITE
3.1 Etape initiale de fabrication
3.2 Rapports certifies d'essais
3.3 Conditions d'homologation
3.4 Controle de la conformité de la qualité
SECTION 4 -- METHODES D'ESSAI ET DE MESURE
4.1 Conditions atmosphériques normales
4.2 Examen visuel et vérification des dimensions
4.3 Tension de tenue
4.4 Capacité
4.5 Tangente de l'angle de perces
4.6 Résistance d'isolement
4.7 Coefficient de température et dérive de capacité après
cycle thermique
4.8 Inductance
4.9 Dérive instantanée
4.10 Essai Q: Etancheite
4.11 Essais des groupes la et Cla
4.12 Essais des groupes lb et Clb
4.13 Séquence climatique
4.14 Essai Ca: Essai continu de chaleur humide
4.15 Endurance
ANNEXE A: Méthode d'essai pour la mesure de l'inductance d'un
condensateur
ANNEXE B: Spécification particulière cadre (CECC 31 501)
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