NF ISO 24173 : 2009
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MICROBEAM ANALYSIS - GUIDELINES FOR ORIENTATION MEASUREMENT USING ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION
12-01-2013
Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Équipement EBSD
5 Conditions de fonctionnement
6 Étalonnages requis pour l'indexation des clichés EBSP
7 Procédure d'analyse
8 Incertitude de mesure
9 Présentation des résultats d'analyse
Annexe A (informative) - Principe de l'EBSD
Annexe B (normative) - Préparation de l'échantillon pour
l'EBSD
Annexe C (informative) - Brève introduction à la
cristallographie, à l'indexation du cliché
EBSP, et autres informations utiles pour
l'EBSD
Bibliographie
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