VDE V 0831-129 : 1999

Einleitung
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Definitionen und Abkürzungen
  3.1 Definitionen
  3.2 Abkürzungen
4 Gesamtrahmen dieser europäischen Vornorm
5 Bedingungen für die Sicherheitsanerkennung und -zulassung
  5.1 Der Sicherheitsnachweis
  5.2 Nachweis des Qualitätsmanagements
  5.3 Nachweis des Sicherheitsmanagements
  5.4 Nachweis der funktionalen und technischen Sicherheit
  5.5 Sicherheitsanerkennung und -zulassung
Anhang A (normativ) Sicherheitsanforderungsstufen
         A.1 Einleitung
         A.2 Sicherheitsanforderungen (siehe Bild A.1)
         A.3 Sicherheitsintegrität (siehe Bild A.1)
         A.4 Sicherheitsanforderungsstufen
         A.5 Zuteilung der Sicherheitsintegrität
         A.6 Verbindung zwischen Risikoreduktion und
             SIL-Zuordnung
Anhang B (normativ) Zusätzliche technische Anforderungen
         B.1 Einleitung
         B.2 Nachweis des korrekten funktionalen Verhaltens
         B.3 Ausfallauswirkungen
         B.4 Betrieb mit externen Einflüssen
         B.5 Sicherheitsbezogene Anwendungsbedingungen
         B.6 Sicherheitserprobung
Anhang C (normativ) Identifizierung der Ausfallarten von
         Hardware-Bauteilen
         C.1 Einleitung
         C.2 Allgemeines Verfahren
         C.3 Das Verfahren für integrierte Schaltkreise
             (einschliesslich Mikroprozessoren)
         C.4 Das Verfahren für Bauteile mit unverlierbaren
             physikalischen Eigenschaften
         C.5 Allgemeine Anmerkungen zu den
             Bauteil-Ausfallarten
         C.6 Zusätzliche allgemeine Anmerkungen zu den
             Bauteilen mit unverlierbaren physikalischen
             Eigenschaften
         C.7 Spezielle Anmerkungen zu den Bauteilen mit
             unverlierbaren physikalischen Eigenschaften
Anhang D (informativ) Ergänzende technische Informationen
         D.1 Einleitung
         D.2 Erlangung der physikalischen internen
             Unabhängigkeit
         D.3 Erlangung der physikalischen externen
             Unabhängigkeit
         D.4 Beispiel für eine Methode zur
             Einzelausfallanalyse
         D.5 Beispiel für eine Methode zur
             Mehrfachausfallanalyse
Anhang E (informativ) Techniken und Massnahmen für
         sicherheitsrelevante elektronische Systeme für
         Signaltechnik zur Vermeidung von systematischen
         Fehlern und zur Beherrschung von zufälligen und
         systematischen Ausfällen
Anhang F (informativ) Literaturhinweise
Bild 1 Anwendungsbereich der CENELEC-Eisenbahnnormen
Bild 2 Struktur der ENV
Bild 3 Struktur des Sicherheitsnachweises
Bild 4 Beispiel eines Systemlebenszyklus (aus EN 50126)
Bild 5 Beispiel der Entwurfs- und Validationsteile eines
         Systemlebenszyklus
Bild 6 Festlegung von Unabhängigkeiten
Bild 7 Struktur des technischen Sicherheitsberichts
Bild 8 Sicherheitsanerkennungs- und -zulassungsverfahren
Bild 9 Beispiele von Abhängigkeiten zwischen
         Sicherheitsnachweisen und Zulassungen
Bild A.1 Sicherheitsanforderungen und Sicherheitsintegrität
Bild A.2 Beziehungen zwischen SIL, Techniken und
         Zahlenwerten
Bild A.3 Sicherheitsmanagementprozess
Bild A.4 SIL-Sichtweisen
Bild A.5 Allgemeine Erklärung des Risikoreduktionsprozesses
Bild A.6 Risikoreduktionsprozess und Zuordnung der SIL auf
         Elementebene
Bild B.1 Die Unabhängigkeit beeinträchtigende Einflussfaktoren
Bild B.2 Einzelausfälle; Offenbarung und sicherheitsgerichtete
         Ausfallreaktion
Bild D.1 Beispiel einer Ausfallanalysenmethode
Tabelle C.1 Widerstande
Tabelle C.2 Kondensatoren
Tabelle C.3 Elektromagnetische Bauteile
Tabelle C.4 Dioden
Tabelle C.5 Transistoren
Tabelle C.6 Gesteuerte Gleichrichter
Tabelle C.7 Überspannungsschutz
Tabelle C.8 Optoelektronische Bauelemente
Tabelle C.9 Filter
Tabelle C.10 Verbindungszubehör
Tabelle C.11 Sicherungen
Tabelle C.12 Schalter und Taster
Tabelle C.13 Lampen
Tabelle C.14 Batterien
Tabelle C.15 Umwandler (Transducer)/Sensoren (ausgenommen
             solche mit internen elektronischen
             Schaltkreisen)
Tabelle C.16 Integrierte Schaltkreise
Tabelle D.1 Massnahmen zur Ausfalloffenbarung in
             hochintegrierten Schaltungen mittels
             periodischer Online-Tests mit Vergleich (Software
             oder Hardware) in einem 2-von-n-System
Tabelle E.1 Sicherheitsplanung und
             Qualitätssicherungst-ae-tigkeiten (verweist auf 5.2
             und 5.3.4)
Tabelle E.2 Systemanforderungsspezifikation (verweist auf
             5.3.6)
Tabelle E.3 Sicherheitsorganisation (verweist auf 5.3.3)
Tabelle E.4 Architektur des Systems/Teilsystems bzw. der
             Einrichtung (verweist auf 5.4)
Tabelle E.5 Entwurfsmerkmale (verweist auf 5.4)
Tabelle E.6 Risikoreduktion auf Systemelementebene (verweist
             auf 5.4)
Tabelle E.7 Entwurf und Entwicklung des Systems/Teilsystems bzw.
             der Einrichtung (verweist auf 5.3.7)
Tabelle E.8 Entwurfsphasendokumentation (verweist auf 5.2)
Tabelle E.9 Verifikation und Validation des Systems und
             Produktentwurfs (verweist auf 5.3.9)
Tabelle E.10 Anwendung, Betrieb und Instandhaltung (verweist auf
             5.4 und 6.3.12)