OVE/ONORM EN 60749-10 : 2003
Superseded
A superseded Standard is one, which is fully replaced by another Standard, which is a new edition of the same Standard.
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SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 10: MECHANICAL SHOCK
01-10-2024
01-12-2013
In diesem Teil der Norm ist ein Prüfverfahren für das mechanische Schocken beschrieben, mit dem festgestellt wird, ob Bauelemente für den Einsatz in elektronischen Einrichtungen geeignet sind, die mässig schweren mechanischen Schocks infolge plötzlich ausgeübter Kräfte oder abrupter Bewegungsänderungen ausgesetzt sind, welche durch raue Handhabung, Transport oder Feldeinsatz erzeugt werden. Derartige Schocks können die Betriebsmerkmale störend beeinflussen, insbesondere, wenn die Schockimpulse wiederkehrend sind. Dies ist ein zerstörendes Prüfverfahren. Es ist üblicherweise für Gehäuse mit Hohlraum anwendbar. Dieses Prüfverfahren zum mechanischen Schocken entspricht im Allgemeinen IEC 60068-2-27; allerdings sind, bedingt durch die besonderen Anforderungen an Halbleiterbauelemente, die Abschnitte der vorliegenden Norm anzuwenden.
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