NF EN 61747-1 : 2000 AMD 1 2003

AVANT-PROPOS
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Terminologie
  3.1 Concepts physiques
  3.2 Termes généraux
  3.3 Termes relatifs aux valeurs limites et aux caractéristiques
4 Aspects techniques
  4.1 Ordre de priorité
  4.2 Terminologie, unités et symboles
  4.3 Plages préférentielles de température, d'humidité et de
       pression
  4.4 Marquage
  4.5 Catégories de qualité assurée
  4.6 Sélection
  4.7 Traitement
5 Procédures d'évaluation qualité
  5.1 Admissibilité à l'homologation
  5.2 Informations commerciales confidentielles
  5.3 Constitution des lots de controle
  5.4 Dispositifs à structure similaire
  5.5 Octroi d'homologation
  5.6 Controle de conformité à la qualité
  5.7 Procédures statistiques d'échantillonnage
  5.8 Essais d'endurance
  5.9 Essais d'endurance avec taux de défaillance spécifié
  5.10 Procédures d'essai accélérées
  5.11 Agréments de savoir-faire
6 Procédures d'essai et de mesure
  6.1 Conditions atmosphériques normales pour mesures électriques et
       optiques
  6.2 Examen physique
  6.3 Mesures électriques et optiques
  6.4 Essais d'environnement
Annexe A (informative) - Index des références croisées
Annexe B (informative) - Exemple de schémas représentant des
                         cellules d'affichage à cristaux liquides
Annexe C (normative) - Orientation des modules LCD
Annexe D (normative) - Plans d'échantillonnage pour le niveau de
                         qualité toléré (NQT)
Annexe ZA (normative) - Références normatives à d'autres
                         publications internationales avec les
                         publications européennes correspondantes